测试与失效分析

Testing and Failure Analysis
表面形貌分析
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原子力显微镜（AFM）

设备型号：Dimension ICON
针对各类储能业务需求，TIES力图发展成为布局全面，面向市场，集测试分析、失效分析、资质认证、技术开发、工程放大、智能制造、高价值信息服务、高端培训为一体的研发型企业。 联系我们

技术参数

1.扫描范围：90µm × 90µm × 10µm

2.光学辅助观察系统：285 ~ 1285倍放大

3. 分辨率：1.5µm

4. 视场范围：180-1465µm 


应用范围

表面形貌图像、表面粗糙度、三维表面形态影像、形态的定量测量
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X射线光电子能谱仪（XPS）
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友情链接： 中国科学院物理研究所 长三角物理研究中心有限公司 溧阳深水科技咨询有限公司

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