测试与失效分析

Testing and Failure Analysis
结构分析
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红外光谱仪（FTIR）

设备型号：VERTEX 80V型
针对各类储能业务需求，TIES力图发展成为布局全面，面向市场，集测试分析、失效分析、资质认证、技术开发、工程放大、智能制造、高价值信息服务、高端培训为一体的研发型企业。 联系我们

技术参数

1. 光谱分辨率，优于0.06 cm

2.覆盖太赫兹至紫外波段的全光谱范围

3.UltraScanTM真正准直、高分辨率的专利干涉仪

4.双通道、24位高速模/数转换器


应用范围

VERTEX适用于各种极限条件下的研究工作，如：高分辨率测试、超快速扫描、步进扫描及UV扩展谱区的测量。布鲁克公司独特的数字化DigiTectTM数据采集专利技术有效防止外部信号干扰，确保了很好的信噪比
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X射线衍射仪（XRD）
技术参数（1）角度重现性： 0.0001（2）角度精度： 0.0001（3）2θ角范围：-110~168（4）发生器最大输出功率：3KW应用范围物相定性定量分析、结晶度分析、晶胞参数计算、晶粒大小分析、高低温原位分析、透射分析。  

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400MHz核磁共振谱仪(NMR）
技术参数1.磁体：使用ASCENDTM超超屏蔽超导磁体系统，磁场强度：9.397特斯拉，54 mm室温腔，液氮保持时间大于300天。2.探头：BBFO SMART二合一观察宽带探头，H去偶，氘锁通道，标准宽带范围：BB=19F和31P-15N，变温范围：-150~+150℃。设备优势：该设备可以实现非常好的现场稳定性。外部干扰抑制(EDS)可以屏蔽掉高达99%的外部磁场干扰。具有最小的杂散磁场。由于尺寸更小、重量更轻，磁体更易于安装和使用。应用范围1.常规一维谱（1H，13C，31P，19F等）和常规二维谱（COSY，NOESY，HMQC，HMBC，TOCSY等）的测试。2.微量样品的测定及混合物定量分析。3.在电池领域：可用于化学结构分析、构型和构象分析、结构与物性的研究、定量分析等，以及反应机理研究、产品质量检验、失效分析、产品开发等。

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