测试与失效分析

Testing and Failure Analysis

您当前所在的位置:首页 > 技术服务 > 测试与失效分析 > 断层扫描

高分辨率3D计算机断层扫描(XCT)

设备型号:XTH 225 ST
针对各类储能业务需求,TIES力图发展成为布局全面,面向市场,集测试分析、失效分析、资质认证、技术开发、工程放大、智能制造、高价值信息服务、高端培训为一体的研发型企业。 联系我们

技术参数

密度测量范围(g/cm3) 0.000-3.000

密度准确度d(g/cm3) ±0.001

密度重复性d(g/cm3) ±0.0005

样品温度范围(℃) 0-50

环境温度范围(℃) Densito:-10-50

DensitoPro:0-50

结果存储 1100

测量单位(a) 密度;比重;白利糖度;API(b);波美标度;乙醇(酒精);H2SO4;Proof(US和IP);柏拉图;用户定义的浓度


应用范围

适用于所有行业

应用广泛:无论是实验室还是现场,本仪器可用于多种行业


上一篇:没有了
下一篇:没有了

CopyRight © 2024 天目湖先进储能技术研究院有限公司 All Rights Reserved. 苏ICP备18030956号-1